型号：X-8

X-8显微熔点测定仪（高温型）

产品概述：X-8显微熔点测定仪（高温型）（型号X-8），属于显微镜配件，适用于材料科学、高分子研究、冶金分析、纳米材料。

测温范围室温-400℃，满足高温材料熔点测定

专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子及纳米材料研制

可与体视显微镜、偏光显微镜连接，观察不同材料结晶融化过程

微观观察记录熔化、升华、结晶过程中的状态及各种变化

人性化傻瓜设计，自动化程度高、操作简单

最大升温速度：室温-100℃≤40秒

即刻恒温响应时间≤0.01秒

全范围测量精度≤±0.5%

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应用场景

适用领域

金属、合金、无机材料高温熔点及相变观察。

聚合物熔化、结晶过程微观观察记录。

冶金学样品熔点测定、结晶行为研究。

纳米材料热行为、晶型转变观察。